FISCHERSCOPE X-RAY XUV773

ویژگی ها:

  • آنالیز عناصر با عدد اتمی 11 (سدیم) تا عدد اتمی 92 (اورانیوم) 
  • شناسایی همزمان حداکثر 24 عنصر در یک آلیاژ
  • آنالیز ماده و یا اندازه گیری ضخامت پوشش (حتی پوشش های چندلایه)
  • انتخاب اتمسفر محفظه اندازه گیری از جنس خلاء، گاز محافظ (مثل هلیوم) و یا هوای محیط
  • مجهز به نرم افزار قدرتمند WinFTM جهت انتقال، آنالیز و ثبت اطلاعات روی حافظه کامپیوتر
  • آشکارساز X-Ray از نوع (Silicon Drift Detector (SDD با حساسیت فوق العاده بالا  (140 eV ≥ )
  • تیوب X-ray از نوع میکروفوکوس با تارگت از جنس Rhodium
  • مجهز به ویدئو میکروسکوپ متحرک از نوع CCD رنگی با رزولوشن بالا و قابل کنترل جهت مشاهده نمونه و انتخاب مکان دقیق آنالیز، با قابلیت تنظیم نور و بزرگنمایی تصویر (180 برابر)
  • امکان آنالیز مایعات، مواد مرطوب و یا ارگانیک مستعد اکسیداسیون در اتمسفر محیط
  • کولیماتور (قطر اشعه) قابل تنظیم از 0.1mm تا 3mm
  • کنترل حرکت الکترونیکی محل قرارگیری نمونه در جهات Z/Y/X
  • مناسب برای نمونه های با شکل پیچیده
  • درب بازشونده بصورت الکترونیکی
  • بالاترین دقت و کمترین نیاز به کالیبراسیون در مقایسه با محصولات مشابه
  • کوچکترین ناحیه قابل آنالیز حدودا 0.15mm
  • بدون نیاز به آماده سازی نمونه
  • ضخامت سنجی پوشش از چند نانومتر (مناسب برای کاربردهای الکترونیک و نیمه هادی ها)
  • دارای بیش از 500 بلاک و فویل کالیبراسیون انتخابی شامل بلاک های آنالیز عناصر و آلیاژها، و فویل های کالیبراسیون با یک، دو و یا سه لایه پوشش از مواد مختلف جهت ضخامت سنجی دقیق پوشش ها
  • ایده آل برای مراکز تحقیقاتی در صنعت و دانشگاه

  

کمپانی آلمانی هلموت فیشر از معتبرترین شرکت های سازنده دستگاه های اندازه گیری و آنالیز مواد در جهان به شمار می رود. دستگاه FISCHERSCOPE  X-RAY  XUV 773 قوی ترین و مدرن ترین دستگاه XRF این کمپانی برای آنالیز مواد و سنجش ضخامت پوشش مواد محسوب می شود.

مدل XUV 773 دستگاهی کامل جهت آنالیز انواع مواد و اندازه گیری ظریف ترین پوشش هاست. برای هر کاربرد، تست بلاک مخصوص آن توسط کمپانی فیشر ارائه شده که موجب حصول بالاترین درجه دقت در نتیجه می گردد.

این دستگاه مجهز به یک تیوب میکرو فوکوس اشعه ایکس با تارگت از جنس Rhodium و دتکتور جدید و حساس SDD است که موجب حصول بالاترین دقت در تعیین نوع و مقدار عناصر تشکیل دهنده ماده می شود.

درب این دستگاه بصورت الکترونیکی باز و بسته می شود و می توان اتمسفر درون محفظه را با توجه به کابرد مورد نظر از میان اتمسفر خلاء، اتمسفر محیط، هلیم و یا سایر گازهای محافظ انتخاب کرد. ضخامت سنجی لایه پوششی از جنس Al و Si و یا اکسیدهای آنها با دقت نانومتر، همچنین امکان آنالیز عناصر سبک مانند سدیم آنهم بدون آماده سازی نمونه از مزایایی است که در سایه اتمسفر قابل تنظیم این دستگاه فراهم آمده است.

نرم افزار WinFTM برنامه انحصاری هلموت فیشر طراحی شده مخصوص XRFهای ساخت این کمپانی است که تحلیل اطلاعات و ارائه گزارش را برای کاربران بسیار آسان ساخته است.

کاربرد عمده XUV 733 در مراکز تحقیقاتی دانشگاهی و صنعتی از جمله صنایع الکترونیک، فلزات گرانبها، اتومبیل، هوافضا و... می باشد.

 

خواهشمند است جهت کسب اطلاعات بیشتر با بخش فروش پرتونمای طلوع به شماره 63402 تماس حاصل فرمایید.

محتوای بیشتر در این بخش: « FISCHERSCOPE X-RAY XAN250